寿茂维扫描电镜对样品的处理流程图

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扫描电镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种广泛用于观察微小物体的显微镜,可以对样品进行非破坏性、高分辨率的观察。以下是扫描电镜对样品的处理流程图:

1. 样品准备
在将样品放入扫描电镜之前,需要将其准备工作做好。首先需要将样品放置在扫描电镜的载物台上,并将样品固定在夹具中,以避免在观察过程中样品移动。其次需要使用扫描电镜的磁透镜系统对样品进行聚焦。

2. 样品观察
将样品放入扫描电镜的样品室中,并关闭样品室门。此时,扫描电镜将使用其高能电子束来扫描样品表面。扫描电镜的电子枪将产生电子图像,这些图像将被放大到扫描电镜的屏幕上。

3. 样品处理
在样品观察过程中,需要对样品进行一定的处理以更好地观察。例如,在观察陶瓷样品时,需要将其研磨成薄片。在观察金属样品时,需要使用磁性样品夹具将其固定在扫描电镜上。

4. 样品分析
在样品观察完成后,需要对样品进行分析。分析可以包括测量样品厚度、成分、结构等。例如,在观察半导体样品时,可以使用扫描电镜的能谱仪来分析其元素组成。

5. 样品整理
在样品分析完成后,需要将样品整理好,以便于下次观察。例如,将半导体样品放回其原始包装中,以便于保存。

以上是扫描电镜对样品的处理流程图。通过这个流程,我们可以使用扫描电镜来观察和分析样品,并获得高分辨率的图像。

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